Hommel-Etamic Nanoscan 855 — высокоскоростной оптико-механический комбинированный прибор высочайшей точности, предназначенный для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.
Очень высокое разрешение 0,6 нанометра в сочетании с большим диапазоном измерения 24 мм позволяет Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIKпозволяет прибору осуществлять синхронное сверхточное измерение характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях. Помимо высокой точности хода, Nanoscan 855 JENOPTIK имеет отличные точностные характеристики параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне. Высокие требования точности соблюдены благодаря специально составленной системе воздушного демпфирования и корпуса, которые сводят к минимуму внешние влияния на процесс измерения.
Возможность работы с ЧПУ позволяет полностью автоматизировать процесс измерения, устанавливая параметры для измерения в зависимости от используемого датчика. Это сводит к минимуму вмешательство оператора и исключает возможность ошибки при эксплуатации, обеспечивая максимальную производительность при высоком контроле качества.
Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIK
Параметр |
ед. изм. |
Величина |
|
В горизонтальной плоскости |
|||
Длина трассирования |
мм |
0,1 … 200 |
|
Скорость трассирования |
мм/с |
0,05 … 10 |
|
Скорость измерения |
мм/с |
0,05 … 5 |
|
Интервал выборки данных |
мкм |
0,01 … 10 |
|
Прямолинейность хода |
мкм/мм |
0,4 / 200 |
|
В вертикальной плоскости |
|||
Измерительный диапазон |
мм |
24 |
|
Разрешение |
нм |
0,6 |
|
Измерительное усилие |
мН |
±0,5 … 50 |